回路電(diàn)阻測試儀測試(shì)問題及處理方法(fǎ)

      按照常規設計(jì)原(yuán)理設計的(dí)回路電阻測試儀在現(xiàn)場測試時(shí)發(fā)現，都(dū)普遍(biàn)存在一個(gè)問題(tí)：當回(huí)路(lù)電(diàn)阻測試(shì)儀電(diàn)壓接綫回(huí)路(lù)出(chū)現接觸不(bù)良(liáng)或開(kāi)路(lù)時，回(huí)路(lù)電阻測(cè)試(shì)儀還會顯示(shì)一(yī)個(gè)數(shù)值(zhí)，此(cǐ)時(shí)會(huì)出現(xiàn)以(yǐ)下(xià)幾種(zhǒng)情(qíng)況：

1，電(diàn)壓回(huí)路(lù)開路，測試(shì)現場沒(méi)有(yǒu)強電場幹(gān)擾(rǎo)，這(zhè)種(zhǒng)情況下，由(yóu)於(yú)放大器輸入(rù)的(dí)差模電(diàn)壓基本為0，故(gù)回(huí)路電阻(zǔ)測試儀(yí)顯示的測試數(shù)值接近為0，如(rú)果(guǒ)測(cè)試人員有足夠的(dí)現(xiàn)場測試經驗(yàn)，可以(yǐ)判(pàn)斷(duàn)出(chū)是回路電阻測試儀(yí)電壓回(huí)路測試綫(xiàn)異常(cháng)，將回路(lù)電阻(zǔ)測試儀(yí)電壓回路(lù)測試綫(xiàn)異常排(pái)除後，可以得出(chū)正(zhèng)確(què)測(cè)試(shì)結果(guǒ)。

2，電壓回路接觸不(bù)良，大多數情(qíng)況下斷(duàn)路器的接(jiē)綫(xiàn)端子在(zài)運(yùn)行後端子排(pái)外(wài)表(biǎo)麵會(huì)產生氧化膜或(huò)油(yóu)膜，當回路(lù)電(diàn)阻儀(yí)的(dí)電(diàn)壓測試鉗夾接(jiē)到(dào)這(zhè)樣的(dí)端子(zǐ)排(pái)上時就可(kě)能產生接(jiē)觸不(bù)良，既電壓測試綫(xiàn)鉗夾本身(shēn)也(yě)要(yào)產生一定(dìng)的接(jiē)觸電(diàn)阻，該接觸電(diàn)阻值達到與(yǔ)電(diàn)壓采(cǎi)樣(yàng)回(huí)路的(dí)內阻(zǔ)值相(xiāng)當(dāng)時，將對(duì)測試(shì)結果產生嚴(yán)重影響。

3，電(diàn)壓(yā)回(huí)路開路或接觸不良(liáng)(開路時可(kě)視接觸(chù)電阻R1無窮大)，測(cè)試現(xiàn)場有較(jiào)強的(dí)電磁幹擾(rǎo)，如母(mǔ)綫帶(dài)電，此時帶(dài)電(diàn)母綫通過(guò)以空氣(qì)為(wéi)介質的(dí)電(diàn)容(róng)，幹(gān)擾回路電(diàn)阻測(cè)試儀的(dí)兩(liǎng)條(tiáo)電(diàn)壓測(cè)試(shì)綫，由(yóu)於幹擾的作用使回(huí)路(lù)電(diàn)阻測試(shì)儀(yí)電壓采集綫兩(liǎng)端出現差(chà)模(mó)電壓(yā)。

回(huí)路電(diàn)阻測(cè)試儀利用四(sì)綫製(zhì)測(cè)量法解(jiě)決(jué)

回(huí)路(lù)電(diàn)阻測(cè)試儀根據對(duì)以(yǐ)上問題的(dí)分析，采用(yòng)了(liǎo)新的(dí)電(diàn)源(yuán)技(jì)術，通(tōng)過(guò)大電(diàn)流(liú)恒流(liú)源(yuán)給(gěi)試(shì)品加(jiā)電(diàn)測(cè)試(shì)，采集電(diàn)壓電流的數值，計(jì)算(suàn)試品(pǐn)的電(diàn)阻值，克服了(liǎo)脈(mài)衝式電源瞬(shùn)間(jiān)電(diàn)流的弊端(duān)，可(kě)以(yǐ)有效(xiào)的(dí)擊(jī)穿開(kāi)關觸頭(tóu)氧化(huà)膜，解(jiě)決(jué)目前傳統回路電阻測試(shì)儀存(cún)在的(dí)問(wèn)題。