HTHL-100A回(huí)路電阻測(cè)試(shì)儀簡(jiǎn)單(dān)介(jiè)紹

目前，接觸(chù)電(diàn)阻(zǔ)的測(cè)量電力係統(tǒng)中普遍(biàn)采用常(cháng)規(guī)的(dí)QJ44型雙(shuāng)臂直(zhí)流電橋(qiáo)，而類(lèi)電橋的(dí)測試(shì)電流僅(jǐn)m*，難以發(fā)現(xiàn)回路(lù)導(dǎo)體(tǐ)截(jié)麵(miàn)積減(jiǎn)少(shǎo)的缺(quē)陷(xiàn)，在測量(liáng)高壓開關導電回(huí)路(lù)接(jiē)觸電阻時，由(yóu)於(yú)受(shòu)觸(chù)頭之間油(yóu)膜(mó)和氧(yǎng)化層的影(yǐng)響，測量值偏大(dà)若(ruò)幹倍(bèi)，無法(fǎ)真(zhēn)實的(dí)反(fǎn)映(yìng)接觸(chù)電(diàn)阻值
。

HTHL-100A回路(lù)電(diàn)阻測(cè)試儀  的詳(xiáng)細介(jiè)紹

產(chǎn)品(pǐn)特征(zhēng)

1，大電(diàn)流
：回路(lù)電阻(zǔ)測試儀(yí)采(cǎi)用(yòng)電(diàn)源技術(shù)，能(néng)長(cháng)時(shí)間(jiān)連續輸(shū)出大電(diàn)流，克服(fú)了(liǎo)脈衝式(shì)電(diàn)源瞬(shùn)間電流(liú)的(dí)弊(bì)端，可(kě)以有(yǒu)效(xiào)的(dí)擊(jī)穿(chuān)開關觸頭氧(yǎng)化(huà)膜(mó)，得到(dào)良(liáng)好(hǎo)的(dí)測(cè)試結(jié)果
　　2，抗幹(gān)擾能(néng)力強(qiáng)
：在嚴(yán)重幹(gān)擾條件下(xià)，液晶屏(píng)後(hòu)一(yī)位(wèi)數據(jù)能穩定在±1個字範圍(wéi)內(nèi)，讀(dú)數(shù)穩(wěn)定，重(zhòng)復性好
　　3，本回(huí)路(lù)電(diàn)阻測(cè)試儀使(shǐ)用壽(shòu)命(mìng)長(cháng)
：全部(bù)采用(yòng)高精度電阻(zǔ)，有(yǒu)效(xiào)的(dí)消(xiāo)除環境(jìng)溫(wēn)度(dù)對測量結果(guǒ)的(dí)影響，同(tóng)時(shí)接插件(jiàn)的使(shǐ)用(yòng)增強了抗振性能
　　4，攜帶方便
：體積小，重(zhòng)量(liáng)輕

產(chǎn)品(pǐn)參數

簡單介紹(shào)

目(mù)前(qián)，接觸電(diàn)阻(zǔ)的測量(liáng)電(diàn)力(lì)係統(tǒng)中普遍采用(yòng)常(cháng)規的QJ44型(xíng)雙臂(bì)直(zhí)流(liú)電(diàn)橋，而類電橋的(dí)測試(shì)電(diàn)流(liú)僅(jǐn)m*，難(nán)以發(fā)現(xiàn)回路(lù)導體截(jié)麵積減(jiǎn)少(shǎo)的(dí)缺陷，在(zài)測量(liáng)高(gāo)壓開關(guān)導電回(huí)路接觸(chù)電阻時，由於(yú)受觸(chù)頭(tóu)之(zhī)間(jiān)油膜(mó)和氧化(huà)層的(dí)影響(xiǎng)，測(cè)量值偏大若幹(gān)倍，無(wú)法(fǎ)真實的反映接觸電阻值(zhí)
。

簡(jiǎn)單(dān)介(jiè)紹

目前，接觸(chù)電阻的測量(liáng)電力(lì)係(xì)統(tǒng)中普遍采用(yòng)常規的QJ44型(xíng)雙(shuāng)臂直流(liú)電橋，而(ér)類(lèi)電橋的測(cè)試電(diàn)流僅(jǐn)m*，難以(yǐ)發現(xiàn)回路(lù)導體截麵(miàn)積(jī)減(jiǎn)少的缺陷，在(zài)測(cè)量(liáng)高(gāo)壓開(kāi)關導電(diàn)回(huí)路接(jiē)觸電(diàn)阻(zǔ)時，由(yóu)於受(shòu)觸(chù)頭(tóu)之間油(yóu)膜(mó)和氧(yǎng)化(huà)層的影響，測量(liáng)值偏(piān)大(dà)若幹倍(bèi)，無法(fǎ)真實的反映接觸電阻(zǔ)值(zhí)
。

簡單(dān)介紹

目(mù)前，接觸電阻的測(cè)量(liáng)電力係統中普遍采用(yòng)常規(guī)的QJ44型雙臂直(zhí)流(liú)電(diàn)橋，而(ér)類(lèi)電橋的測試電流(liú)僅m*，難(nán)以發現回路(lù)導體截(jié)麵積(jī)減(jiǎn)少的(dí)缺陷，在(zài)測量(liáng)高壓開關導電(diàn)回(huí)路接(jiē)觸(chù)電阻時(shí)，由於(yú)受(shòu)觸(chù)頭之(zhī)間(jiān)油(yóu)膜和氧(yǎng)化(huà)層(céng)的影響，測(cè)量(liáng)值偏大若(ruò)幹倍，無(wú)法(fǎ)真實的反映(yìng)接觸(chù)電(diàn)阻值
。

簡(jiǎn)單(dān)介紹

目前(qián)，接(jiē)觸電阻(zǔ)的(dí)測(cè)量電(diàn)力係(xì)統中普遍采用常(cháng)規的QJ44型雙臂(bì)直(zhí)流(liú)電橋，而(ér)類(lèi)電橋的(dí)測(cè)試電(diàn)流僅(jǐn)m*，難(nán)以發現回(huí)路(lù)導體截麵積減少(shǎo)的缺陷，在測量高壓開(kāi)關(guān)導(dǎo)電(diàn)回(huí)路接(jiē)觸電阻(zǔ)時(shí)，由(yóu)於(yú)受觸頭之間(jiān)油(yóu)膜(mó)和氧(yǎng)化層(céng)的影響，測(cè)量值(zhí)偏大若幹倍，無法(fǎ)真實的反(fǎn)映(yìng)接(jiē)觸(chù)電(diàn)阻(zǔ)值
。

簡單介紹(shào)

目前(qián)，接(jiē)觸(chù)電(diàn)阻的(dí)測量電(diàn)力係統(tǒng)中普(pǔ)遍采(cǎi)用(yòng)常(cháng)規(guī)的QJ44型(xíng)雙(shuāng)臂(bì)直流電橋，而(ér)類電橋的(dí)測(cè)試電流(liú)僅m*，難以(yǐ)發(fā)現回路導(dǎo)體截麵積減(jiǎn)少的缺陷(xiàn)，在測(cè)量(liáng)高(gāo)壓(yā)開(kāi)關(guān)導電回路接觸(chù)電阻(zǔ)時(shí)，由(yóu)於受(shòu)觸(chù)頭之間油(yóu)膜和氧化層(céng)的(dí)影(yǐng)響，測(cè)量(liáng)值偏大(dà)若幹倍(bèi)，無法(fǎ)真(zhēn)實的反(fǎn)映接觸(chù)電(diàn)阻值
。